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高田俊弘さんが「International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)」で学会発表
高田俊弘さんが「International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)」で学会発表を行いました。
発表者:高田俊弘さん(井田研究室、大学院電気電子工学専攻博士前期課程2年)
発表タイトル:Variability Evaluation of MOS-gated PNPN Diode for Hardware Spiking Neural Network
発表年月日:2023/3/29