電気電子工学科 ニュース
高田俊弘さんが「International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)」で学会発表
高田俊弘さんが「International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)」で学会発表を行いました。
発表者：高田俊弘さん（井田研究室、大学院電気電子工学専攻博士前期課程2年）
発表タイトル：Variability Evaluation of MOS-gated PNPN Diode for Hardware Spiking Neural Network
発表年月日：2023/3/29